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高精度薄膜測厚儀 型號：ZH7574
| 高精度薄膜測厚儀 型號：ZH7574 | |
產品簡介:
適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等**材料的厚度測量。
產品特點：
1.微電腦控制、液晶顯示
2.菜單式界面、PVC操作面板
3.接觸式測量
4.測頭自動升降
5.自動進樣
6.手動、自動雙重測量模式
7.數據實時顯示、自動統計
8.顯示值、值、平均值和統計偏差
9.可設進樣步距、測量點數、進樣速度等參數
10.標準接觸面積、測量壓力（非標可選）
11.顯示值、值、平均值和統計偏差
12.標準量塊標定
13.RS232接口
14.網絡傳輸接口支持局域網數據集中管理與互聯網信息傳輸
指標：
測量范圍：0～2mm；0～6mm；12mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制
進樣步距：0～1000mm
進樣速度：0.1～99.9mm/s
電 源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）
凈 重：32kg
標 準GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTMD374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
標準配置：主機、標準量塊一件
選 購 件：**軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼
北京中慧天誠有限公司
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