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集成電路測(cè)試儀
NICT-33C數(shù)字IC測(cè)試儀|集成電路測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
集成電路測(cè)定儀可對(duì)器件好壞判別，型號(hào)判別，老化測(cè)試，器件代換查詢，內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改，EPROM、EEPROM器件讀出寫入。
數(shù)字IC測(cè)試儀適用范圍：
1.維修**電子產(chǎn)品，判斷其集成電路故障。
2.破譯被抹去型號(hào)集成電路的真實(shí)型號(hào)。
3.燒寫**EPROM、EEPROM、FLASH ROM、單片機(jī)片內(nèi)ROM。
4.開發(fā)**智能電子產(chǎn)品，調(diào)試程序。
5.檢驗(yàn)新購器件的。
數(shù)字IC測(cè)試儀功能特點(diǎn)：
1.器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判別其邏輯功能好壞。
2.器件型號(hào)識(shí)別：當(dāng)不知被測(cè)器件的型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷其型號(hào)。
3.器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。
4.器件代換查詢：儀器可顯示有*邏輯功能**，引腳排列**的器件型號(hào)。
5.內(nèi)部RAM緩沖區(qū)修改：儀器可對(duì)內(nèi)部緩沖區(qū)進(jìn)行多種編輯。
6.微機(jī)通訊：儀器可通過串行口接受來自微機(jī)的數(shù)據(jù)。
7.ROM器件讀入：儀器可將128K以內(nèi)的ROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)讀入并保存。
9.ROM器件寫入：儀器可將內(nèi)部緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)寫入到128K以內(nèi)的ROM器件中。
數(shù)字IC測(cè)試儀主要參數(shù)：
電源電壓：AC220V±15%，50HZ。
整機(jī)功耗：15VA。
測(cè)試電壓：3.3V，5.0V，9.0，15V。
編程電壓：12.5V，21V。
測(cè)試腳數(shù)：DIP封裝40腳；SOP封裝20腳（須另購適配器）。
輸入位數(shù)：3——6位。
適用溫度：0——40℃。
測(cè)試規(guī)范：輸入短路測(cè)試；輸出短路測(cè)試；100%功能測(cè)試。
輸出高電平VOH：大于2.8V（VT=5.0V）。
輸出低電平VOL：小于0.7V（VT=5.0V）。
輸入高電平VIH：大于4.5V（VT=5.0V）。
輸入低電平VIL：小于0.2V（VT=5.0V）。
數(shù)字IC測(cè)試儀主要構(gòu)成：
1.CPU：MCS51系列產(chǎn)品89C52；主頻：11.059M。
2.程序存儲(chǔ)器：128K EPROM。
3.RAM緩沖區(qū)：128K靜態(tài)RAM。
4.顯示器：8位液晶顯示器。
5.操作鍵盤：20位輕觸式按鍵鍵盤。
6.輸出：七只LED+八位液晶顯示+聲音提示。
7.機(jī)箱：塑結(jié)構(gòu)機(jī)箱。
數(shù)字IC測(cè)試儀隨機(jī)附件：
主機(jī) 1臺(tái)
產(chǎn)品說明書 1本
**器件測(cè)試板 1塊
產(chǎn)品保修單 1份
連接插針 2根
通訊光盤 1張
通訊電纜 1根
電源線 1根