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模擬靜電場描繪儀原理
導電微晶法靜電場描繪儀是由導電微晶、雙層固定支架、同步探針等組成；支架采用雙層結構，上層放記錄紙，下層放導電微晶。電*已制作在導電微晶上，并將電*引線接出到外接線柱上，電*間制作有導電率，小于電*且向均勻的導電介質。接通直流電源可以進行實驗。在導電微晶和記錄紙上方有一探針，通過金屬探針臂把兩探針固定在同一手柄座上，兩探終保持在同一鉛垂線上。移動手柄座時，兩探針的運動軌跡是一樣的。由導電微晶上方的探針找到待測點后，按下記錄紙上方的探針，在記錄紙上留下對應的標記，移動同步探針在導電微晶上找出若干電位相同的點，由此可描繪出等位線。
實驗目的：
模擬法測繪靜電場；
采用導電微晶法，電阻微晶結構；
規格參數：
雙層結構，約200mm*90mm
描繪平臺：約200mm*200mm*4mm，電*可*換；
激光描點，激光電源，功率2mw，波長625nm
彈性探頭，接觸電阻小，接觸穩；
電*數量：2個；同軸電纜、平行板電容（還可選配3個：點與平板、平行導線、**）
電阻微晶：約125mm*125mm*0.2mm均勻、耐磨；
電*規格：約200mm*150mm*3mm（不容易破損，減少玻璃易破的確點）
電壓輸出：DC 0-12V數顯，連續可調；
精度范圍：0.01V，短路保護功能；
配電阻微晶導電微晶電*板：同軸電纜、平行板電容，電*板可*換。