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產(chǎn)品名稱: 磁顯微鏡型號:AMF1-ZH
產(chǎn)品型號: AMF1-ZH
產(chǎn)品展商: 國產(chǎn)
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磁顯微鏡型號:AMF1-ZH   使用一系列小尺寸 SQUID, 掃描磁顯微鏡能夠完成微米的非破壞性的表面分析 和代替物表面的非破壞性的分析。它可以被用來檢測很多目標(biāo)，如微電流分配和超導(dǎo)體中的旋流等等。 使用一系列小尺寸 SQUID, 掃描磁顯微鏡能夠完成微米的非破壞性的表面分析 和代替物表面的非破壞性的分析。它可以被用來檢測很多目標(biāo)，如微電流分配和超導(dǎo)體中的旋流等等。 使用一系列小尺寸 SQUID, 掃描磁顯微鏡能夠完成微米的非破壞性的表面分析 和代替物表面的非破壞性的分析。它可以被用來檢測很多目標(biāo)，如微電流分配和超導(dǎo)體中的旋流等等。 使用一系列小尺寸 SQUID, 掃描磁顯微鏡能夠完成微米的非破壞性的表面分析 和代替物表面的非破壞性的分析。它可以被用來檢測很多目標(biāo)，如微電流分配和超導(dǎo)體中的旋流等等。 使用一系列小尺寸 SQUID, 掃描磁顯微鏡能夠完成微米的非破壞性的表面分析 和代替物表面的非破壞性的分析。它可以被用來檢測很多目標(biāo)，如微電流分配和超導(dǎo)體中的旋流等等。

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