產(chǎn)品[
數(shù)字IC測試儀 型號：NICT-33C
]資料
產(chǎn)品名稱:
數(shù)字IC測試儀 型號：NICT-33C
產(chǎn)品型號:
NICT-33C
產(chǎn)品展商:
其它
產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹
數(shù)字IC測試儀 型號：NICT-33C可測1300種器件。
可對器件好壞判別，型號判別，老化測試，器件代換查詢，內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改，EPROM、EEPROM器件讀出寫入。
數(shù)字IC測試儀 型號：NICT-33C
的詳細(xì)介紹
數(shù)字IC測試儀
型號：NICT-33C |
貨號：ZH9815 |
產(chǎn)品簡介:
可測1300種器件。
可對器件好壞判別，型號判別，老化測試，器件代換查詢，內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改，EPROM、EEPROM器件讀出寫入。
主要功能
器件好壞判別：當(dāng)不知被測器件的好壞時(shí)，儀器可判斷其好壞。
器件型號判別：當(dāng)不知被測器件型號時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷其型號。
器件老化測試：當(dāng)懷疑被測器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對其進(jìn)行連續(xù)老化測試。
器件代換查詢：儀器可顯示有*邏輯功能**、引腳排列**的器件型號。
內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改：ICT?/FONT>33C可從鍵盤對自己內(nèi)部RAM 中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。
EPROM、EEPROM器件讀入：ICT?/FONT>33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入并保存。
EPROM、EEPROM器件寫入：ICT?/FONT>33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫入到64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件中，并自動(dòng)校驗(yàn)。
可測器件（1300多種）
數(shù)碼管系列：0.5吋共陽[001]；共陰[002]；0.3吋共陽[003]；共陰[004]；0.7吋共陽[005]；共陰[006]。
數(shù)字IC測試儀 型號：NICT-33C |
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