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NIBJ-2948A晶閘管綜合參數測試儀|晶閘管參數測試系統
晶閘管綜合參數測試儀產品簡介：
晶閘管參數測試系統是用于測量晶閘管的通態、斷態、控制常用靜態參數的綜合性參數測量儀器。測試原理及方法依據GB/T 15291-94《半導體器件 第六部分 晶閘管》。此系統可以快速、準確、面的對晶閘管進行參數測試和分析測試。**適合器件生產廠家、監測部門和使用廠家進行生產測試、評估、入廠檢驗和性分析測試。
目前對晶閘管參數的測試基本上還是采用指針式儀表和手動操作，此方法讀數慢而且不夠準確，操作也比較繁瑣，不能適應目前自動化、大規模的生產方式。我們研制的晶閘管參數測試系統采用主從式設計，儀器采用***微控制器控制，配備大液晶顯示器，可以*立工作；也可以使用PC機控制操作，使用*加方便。
晶閘管綜合參數測試儀參數：
控制觸發電壓VGT
測量范圍：0～2.5V
測量誤差：≤±3%
控制觸發電流IGT
測量范圍：0～500mA
測量誤差：≤±3%
維持電流IH
測量范圍：0～500mA
測量誤差：≤±3%
通態峰值電流ITM
測量范圍：0～200A
測量誤差：≤±5%
通態峰值電壓VTM
測量范圍：0～2.5V
測量誤差：≤±5%
斷態重復峰值電壓VDRM
測量范圍：0～2000V
測量誤差：≤±5%
斷態重復峰值電流IDRM
測量范圍：0～10mA
測量誤差：≤±5%
反向重復峰值電壓VRRM
測量范圍：0～2000V
測量誤差：≤±5%
反向重復峰值電流IRRM
測量范圍：0～10mA
測量誤差：≤±5%
晶閘管綜合參數測試儀注意事項：
1.測試結束將軟件關閉，關閉機器電源，從測試盒上拔下器件。
2.器件連續測試時，中間需要間隔幾秒鐘。某些器件的VDRM和VRRM值較高（例如高于1000V），那么這兩個參數需要單*測量，否則干擾比較大。
3.儀器如果長期閑置，請每周開機一到兩次，每次半小時。
